Медицинские предметные рубрики MeSH · Русскоязычное энциклопедическое определение
Сканирующий атомно-силовой микроскоп
Атомно-силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, способный определять рельеф поверхности с разрешением от нанометра и выше.
- Редакция дополнительного русскоязычного источника
- 154350865
- Родительское понятие или группа источника
- E01.370.350.515.666.400
- Варианты наименования из источника
- Atomic Force Microscopy · Atomic Force Microscopies · Microscopies, Atomic Force · Scanning Force Microscopy
- Исходное наименование
- Microscopy, Atomic Force
- Идентификатор источника
- D018625
Определение в оригинале
A type of scanning probe microscopy in which a probe systematically rides across the surface of a sample being scanned in a raster pattern.
Источник и редакция
Medical Subject Headings (MeSH), 2026. U.S. National Library of Medicine. Русское изложение не является официальным переводом NLM. https://www.nlm.nih.gov/mesh/ Идентификатор: D018625. Дополнительное определение: участники русской Википедии, «Сканирующий атомно-силовой микроскоп», редакция 154350865. Использован вступительный фрагмент, нормализовано оформление. CC BY-SA 4.0. https://ru.wikipedia.org/w/index.php?oldid=154350865 https://id.nlm.nih.gov/mesh/D018625