Сканирующий зондовый микроскоп
Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM — scanning probe microscope) — класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик.
Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением.
Связанные термины
Микроскоп электронный сканирующийМикроскоп электронный сканирующий/просвечивающийМикроскоп лазерный сканирующий конфокальный
В ИНФОМЕД
Сведения об определении
Участники русской Википедии, «Сканирующий зондовый микроскоп». Отобранный фрагмент редакции 154350866. https://ru.wikipedia.org/w/index.php?oldid=154350866 · CC BY-SA 4.0 · https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/